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    矽光子晶圓級測試系統 SiPh Wafer Level Test System


    功能
    ‧SiPh晶片設計驗證
    ‧學術及實驗室研究
    ‧量產測試及品質控制


    主要特點
    ‧高可靠度奈米等級的對位耦合精度
    ‧半自動化光學耦合與對位測試
    ‧多種測量功能可用於 O-O、O-E、E-O 和 E-E 的設備配置