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矽光子晶圓級測試系統 SiPh Wafer Level Test System
功能
‧SiPh晶片設計驗證
‧學術及實驗室研究
‧量產測試及品質控制
主要特點
‧高可靠度奈米等級的對位耦合精度
‧半自動化光學耦合與對位測試
‧多種測量功能可用於 O-O、O-E、E-O 和 E-E 的設備配置
類別
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-01_3.jpeg "GMT TW")
